Skip to:
Search Results
|
Bottom
|
Search Facets
|
Content
Giriş
|
Hesabım
|
Listelerim
|
|
Remember to clear the cache and close the browser window.
English
Search Limit
Bütün Kütüphaneler
Elektronik Kaynaklar
Hepsi
Başkent Üniversitesi Kütüphanesi
Anadolu OSB Meslek Yüksekokulu
Atasev Özel Koleksiyon
Erdoğan Tercan Koleksiyonu
Güzel Sanatlar ve Tasarım Arşivi
Kazan Meslek Yüksekokulu
Hukuk Koleksiyonu
Ord.Prof.Dr. Enver Ziya Karal Tarih Uygulama Ars.Mrk.
Özel Koleksiyon Serdar Özersin
Tez Koleksiyonu
Tüm Alanlar
Başlık
Yazar
Konu
ISBN
ISSN
13
Search Field
Tüm Alanlar
Arama:
Gelişmiş Arama
Search Results
Elektronik Kaynaklar
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Daraltılmış:
+
Yazar: University of Maryland, College Park. Material Science and Engineering. degree granting institution.
+
Materyal Türü: E-Tez
+
Konu: Materials science.
Yazar
Dahil
Hariç
Curtis, Sabrina M., author. (orcid)0000-0002-2979-2799
(1)
Hays, Thomas Harrison, author.
(1)
Jaim, H. M. Iftekhar, author.
(1)
Mburu, Sarah, author.
(1)
Dil
Dahil
Hariç
English
(4)
Yayın Yılı
Dahil
Hariç
-
2018
(3)
2017
(1)
Konu
Dahil
Hariç
0794
(4)
0537
(2)
Engineering.
(2)
0485
(1)
0611
(1)
Chemistry.
(1)
Condensed matter physics.
(1)
Daha fazla
Tümünü genişlet
Daha az
Hepsini Daralt
Kütüphane
Dahil
Hariç
Başkent Kütüphanesi
Lokasyon
Dahil
Hariç
Proquest E-Tez Koleksiyonu
false
{sortLabel}
{alphabetical}
{relevance}
{include}
{exclude}
{facetName}
{results}
{displayName}
{count}
{error}
Eylem Seç
Ayırt
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır
4 sonuç bulundu
1
Sırala:
Konuyla İlgili Sırala
Yayın Yılı (eskiden yeniye)
Yayın Yılı (yeniden eskiye)
Başlık
Yazar
OK
Eposta Adresleri
:
Phone Number:
Mobile Carrier:
AT&T
Boost
Nextel (Sprint)
Sprint (PCS)
T Mobile
TracFone
US Cellular
Verizon
Virgin
Select An Item
Data usage warning: You will receive one text message for each title you selected.
Standard text messaging rates apply.
Text it to me
Text it to me, and go to next item
0000
DEFAULTTR
Liste seç
Geçici Liste
Bunu varsayılan liste yap.
Öğeler başarıyla eklendi
Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.
Kinetics of Thermal Aging and the Associated Embrittlement of Cast Duplex Stainless Steels
1.
Kinetics of Thermal Aging and the Associated Embrittlement of Cast Duplex Stainless Steels
by
Mburu, Sarah, author.
http://gateway.proquest.com/openurl?url_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:dissertation&res_dat=xri:pqm&rft_dat=xri:pqdiss:10745352
Format:
Effects of Doping and Defects in BaSnO3 and Covetic Alloys
2.
Effects of Doping and Defects in BaSnO3 and Covetic Alloys
by
Jaim, H. M. Iftekhar, author.
http://gateway.proquest.com/openurl?url_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:dissertation&res_dat=xri:pqm&rft_dat=xri:pqdiss:10785513
Format:
Stress Characterization of Stretchable Crystalline Semiconductors
3.
Stress Characterization of Stretchable Crystalline Semiconductors
by
Curtis, Sabrina M., author. (orcid)0000-0002-2979-2799
http://gateway.proquest.com/openurl?url_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:dissertation&res_dat=xri:pqm&rft_dat=xri:pqdiss:10793145
Format:
Evaluation and Improvement of Mechanical and Chemical Resilience of Intermediate-temperature Solid Oxide Fuel Cell Anodes
4.
Evaluation and Improvement of Mechanical and Chemical Resilience of Intermediate-temperature Solid Oxide Fuel Cell Anodes
by
Hays, Thomas Harrison, author.
http://gateway.proquest.com/openurl?url_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:dissertation&res_dat=xri:pqm&rft_dat=xri:pqdiss:10745039
Format:
Eylem Seç
Ayırt
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır
1
Search Results
Elektronik Kaynaklar
Search Results
Elektronik Kaynaklar
OK
Eposta Adresleri
:
Phone Number:
Mobile Carrier:
AT&T
Boost
Nextel (Sprint)
Sprint (PCS)
T Mobile
TracFone
US Cellular
Verizon
Virgin
Select An Item
Data usage warning: You will receive one text message for each title you selected.
Standard text messaging rates apply.
Text it to me
Text it to me, and go to next item
Elektronik Kaynaklar
Sonuçlar alınıyor Elektronik Kaynaklar...
action
Go to:
Search Results
|
Search Facets
|
Top of Page