Giriş
|
Hesabım
|
Listelerim
|
|
Remember to clear the cache and close the browser window.
English
Search Limit
Bütün Kütüphaneler
Elektronik Kaynaklar
Hepsi
Başkent Üniversitesi Kütüphanesi
Anadolu OSB Meslek Yüksekokulu
Atasev Özel Koleksiyon
Erdoğan Tercan Koleksiyonu
Güzel Sanatlar ve Tasarım Arşivi
Kazan Meslek Yüksekokulu
Hukuk Koleksiyonu
Ord.Prof.Dr. Enver Ziya Karal Tarih Uygulama Ars.Mrk.
Özel Koleksiyon Serdar Özersin
Tez Koleksiyonu
Tüm Alanlar
Başlık
Yazar
Konu
ISBN
ISSN
8
Search Field
Tüm Alanlar
Arama:
Gelişmiş Arama
Search Results
Elektronik Kaynaklar
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Daraltılmış:
+
Language: English
+
Kütüphane: Başkent Kütüphanesi
+
Lokasyon: Proquest E-Tez Koleksiyonu
+
Yayın Yılı: 2009
+
Konu: Electrical engineering.
Yazar
Dahil
Hariç
The University of Manchester (United Kingdom). School of Electrical and Electronic Engineering. degree granting institution.
(2)
Rico, Ulises Pineda, author.
(1)
The University of Manchester (United Kingdom). School of Electrical and Electronics Engineering. degree granting institution.
(1)
Uppal, Hasan Javed, author.
(1)
Zou, Yiqun, author.
(1)
Materyal Türü
Dahil
Hariç
E-Tez
Konu
Dahil
Hariç
0544
(3)
false
{sortLabel}
{alphabetical}
{relevance}
{include}
{exclude}
{facetName}
{results}
{displayName}
{count}
{error}
Eylem Seç
Ayırt
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır
3 sonuç bulundu
1
Sırala:
Konuyla İlgili Sırala
Yayın Yılı (eskiden yeniye)
Yayın Yılı (yeniden eskiye)
Başlık
Yazar
OK
Eposta Adresleri
:
Phone Number:
Mobile Carrier:
AT&T
Boost
Nextel (Sprint)
Sprint (PCS)
T Mobile
TracFone
US Cellular
Verizon
Virgin
Select An Item
Data usage warning: You will receive one text message for each title you selected.
Standard text messaging rates apply.
Text it to me
Text it to me, and go to next item
000
DEFAULTTR
Liste seç
Geçici Liste
Bunu varsayılan liste yap.
Öğeler başarıyla eklendi
Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.
Nanoscale Performance, Degradation and Defect Analysis of MOS Devices Using High-kappa Dielectric Materials as Gate Stacks by Atomic Force Microscopy
1.
Nanoscale Performance, Degradation and Defect Analysis of MOS Devices Using High-kappa Dielectric Materials as Gate Stacks by Atomic Force Microscopy
by
Uppal, Hasan Javed, author.
http://gateway.proquest.com/openurl?url_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:dissertation&res_dat=xri:pqm&rft_dat=xri:pqdiss:13870501
Format:
Link Optimisation for MIMO Communication Systems
2.
Link Optimisation for MIMO Communication Systems
by
Rico, Ulises Pineda, author.
http://gateway.proquest.com/openurl?url_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:dissertation&res_dat=xri:pqm&rft_dat=xri:pqdiss:13871146
Format:
Attainment of Global Convergence in Maximum Likelihood Estimation
3.
Attainment of Global Convergence in Maximum Likelihood Estimation
by
Zou, Yiqun, author.
http://gateway.proquest.com/openurl?url_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:dissertation&res_dat=xri:pqm&rft_dat=xri:pqdiss:13871247
Format:
Eylem Seç
Ayırt
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır
1
Search Results
Elektronik Kaynaklar
Search Results
Elektronik Kaynaklar
OK
Eposta Adresleri
:
Phone Number:
Mobile Carrier:
AT&T
Boost
Nextel (Sprint)
Sprint (PCS)
T Mobile
TracFone
US Cellular
Verizon
Virgin
Select An Item
Data usage warning: You will receive one text message for each title you selected.
Standard text messaging rates apply.
Text it to me
Text it to me, and go to next item
Elektronik Kaynaklar
Sonuçlar alınıyor Elektronik Kaynaklar...
action