Search ResultsElektronik Kaynaklar
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULTTR
Yazdır
Liste seç
Bunu varsayılan liste yap.
Öğeler başarıyla eklendi
    Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.
      An Integrated Model for the Probabilistic Prediction of Yield Strength in Electron-Beam Additively Manufactured Ti-6Al-4V için kapak resmi
      1. 
      An Integrated Model for the Probabilistic Prediction of Yield Strength in Electron-Beam Additively Manufactured Ti-6Al-4V
      by 
      Ales, Thomas K., author. (orcid)0000-0002-9217-1020
      http://gateway.proquest.com/openurl?url_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:dissertation&res_dat=xri:pqm&rft_dat=xri:pqdiss:10787274
      Format: 
      Alıntı: 
      probability distributions, the model is verified against a rich mechanical and chemical database built from an
      Examination of Shear Friction Design Provisions için kapak resmi
      2. 
      Examination of Shear Friction Design Provisions
      by 
      Edgmond, Nikkolas James, author.
      http://gateway.proquest.com/openurl?url_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:dissertation&res_dat=xri:pqm&rft_dat=xri:pqdiss:10793521
      Format: 
      Alıntı: 
      of the established database to examine the effectiveness of the ACI 318 Code (2014), PCI Design
      Opto-Electro-Thermal Approach to Modeling Photovoltaic Performance and Reliability from Cell to Module için kapak resmi
      3. 
      Opto-Electro-Thermal Approach to Modeling Photovoltaic Performance and Reliability from Cell to Module
      by 
      Sun, Xingshu, author.
      http://gateway.proquest.com/openurl?url_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:dissertation&res_dat=xri:pqm&rft_dat=xri:pqdiss:10747508
      Format: 
      Alıntı: 
      -dependent degradation processes, a knowledge prerequisite for the next-generation reliability-aware design of PV systems.