Search ResultsElectronic Resources
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Materyal Türü
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Kütüphane
Lokasyon
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULTTR
Yazdır
Liste seç
Bunu varsayılan liste yap.
Öğeler başarıyla eklendi
    Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.
      Addressing Integrated Circuit Integrity Using Statistical Analysis and Machine Learning Techniques için kapak resmi
      1. 
      Development of a Miniature Smart Home Testbed for Research and Education için kapak resmi
      2. 
      Development of a Miniature Smart Home Testbed for Research and Education
      by 
      Nguyen, Trung, author.
      http://gateway.proquest.com/openurl?url_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:dissertation&res_dat=xri:pqm&rft_dat=xri:pqdiss:10622405
      Format: 
      Alıntı: 
      sensor networks, machine learning, pattern recognition, embedded programming, natural language processing
      Improving Efficiency to Advance Resilient Computing için kapak resmi
      3. 
      Improving Efficiency to Advance Resilient Computing
      by 
      Li, Ji, author.
      http://gateway.proquest.com/openurl?url_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:dissertation&res_dat=xri:pqm&rft_dat=xri:pqdiss:10746494
      Format: 
      Alıntı: 
      recognition, such as image classification, pattern recognition, and natural language processing [LBH15