Search ResultsElektronik Kaynaklar
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Materyal Türü
Dil
Yayın Yılı
-
Kütüphane
Lokasyon
9 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000DEFAULTTR
Yazdır
Liste seç
Bunu varsayılan liste yap.
Öğeler başarıyla eklendi
    Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.
      by 
      Hujsak, Karl, author. (orcid)0000-0003-3188-9730
      Format: 
      Alıntı: 
      Computational Electron Microscopy for the Characterization of Soft, Hard, and Hybrid Materials /
      by 
      Bhat, Anupama, author.
      Format: 
      Alıntı: 
      spectroscopy, fluorescence microscopy, atomic force microscopy (AFM), as well as hyperspectral dark
      by 
      Milian, Luis Miguel Martinez, author.
      Format: 
      Alıntı: 
      broad range of experimental measurements such as x-ray diffraction, transmission electron microscopy, x
      by 
      Wang, Congcong, author.
      Format: 
      Alıntı: 
      microscopy, and other tools such as X-ray diffraction and scanning electron microscopy have been used to