Search ResultsElektronik Kaynaklar
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Materyal Türü
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Kütüphane
Lokasyon
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULTTR
Yazdır
Liste seç
Bunu varsayılan liste yap.
Öğeler başarıyla eklendi
    Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.
      Fundamental advantages and practicalities of quantum-photonic metrology and computing için kapak resmi
      1. 
      Fundamental advantages and practicalities of quantum-photonic metrology and computing
      by 
      Birchall, Patrick Matthew, author.
      http://gateway.proquest.com/openurl?url_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:dissertation&res_dat=xri:pqm&rft_dat=xri:pqdiss:13872618
      Format: 
      Alıntı: 
      Fundamental advantages and practicalities of quantum-photonic metrology and computing / Birchall
      Background-free detection and mixed-species crystals in micro- and macroscopic ion-traps for scalable qip için kapak resmi
      2.