Search ResultsElektronik Kaynaklar
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULTTR
Yazdır
Liste seç
Bunu varsayılan liste yap.
Öğeler başarıyla eklendi
    Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.
      Advanced Interfacing Techniques for Sensors Measurement Circuits and Systems for Intelligent Sensors için kapak resmi
      1. 
      Advanced Interfacing Techniques for Sensors Measurement Circuits and Systems for Intelligent Sensors
      by 
      George, Boby. editor.
      http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-55369-6
      Format: 
      Alıntı: 
      Appl.Mathematics/Computational Methods of Engineering.
      The Statistical Stability Phenomenon için kapak resmi
      2. 
      The Statistical Stability Phenomenon
      by 
      Gorban, Igor I. author.
      http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-43585-5
      Format: 
      Alıntı: 
      Appl.Mathematics/Computational Methods of Engineering.